什么是高低溫測試?
高溫、低溫試驗目的用來考核和確定電工、電子產品在高溫、低溫環境條件貯存和(或)使用的適應性。
高溫試驗
產品壽命遵循“10°C規則”,因而高溫試驗作為最常用的試驗,用于元器件和整機的篩選、老化試驗、壽命試驗、加速壽命試驗、評價試驗、同時在失效分析的驗證上起重要作用。
高溫試驗的技術指標包括:溫度、時間、上升速率。
注意產品和元器件的最大耐受溫度極限。
低溫試驗
低溫試驗用于考核產品在低溫環境條件下貯存和使用的適應性,常用于產品在開發階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。
低溫試驗的技術指標包括:溫度、時間、降溫速率。
注意產品從低溫箱取出時由于溫度突變會產生冷凝水。(對溫度循環、溫度沖擊、濕熱試驗均適用)。
高溫、低溫試驗標準
GB2423.1 試驗 A:低溫試驗方法
GB2423.2 試驗 B:高溫試驗方法
GB2424.1 高溫低溫試驗導則
高溫、低溫持續時間
持續時間應從下列時間中選取:2h,16h, 72h,96h。如果對試驗樣品是進行與耐久性或可靠性相聯系的試驗時,則試驗持續時間應由有關標準根據產品特點和實際工作要求另行規定。